场发射透射电子显微镜

主要功能:

主要用于各种材料的二维三维快速成像和化学分析。

X射线光电子能谱仪

主要功能:

主要用于粉末、薄膜、高分子等材料的表面几个原子层(1~10纳米厚的表面)的化学组成、价态、深度剖析及成像、功函数特性的分析与表征。还可进行原位催化、原位充放电、原位光照等反应测试。

200KV冷冻透射电镜(辅助筛样系统)

主要功能:

1. 该设备可在单颗粒分析 (SPA) 工作流中用于样品质量预筛选，并配备Falcon3电子直读相机可用于蛋白单颗粒、生物大分子、细胞或细胞器等的三维结构成像数据采集； 2. 该设备配备Ceta D相机，可进行蛋白微衍射结构解析。

精密离子减薄仪

主要功能:

PIPS II采用聚焦离子束对样品进行减薄,用于制备透射电镜试样。适用性广泛,可对金属、陶瓷、薄膜、复合材料、颗粒等各种材料进行减薄处理。为整套TEM样品制备的最后一道工序,经氩离子减薄的样品可在TEM下直接观察。

差示扫描量热仪

主要功能:

可进行连续温度扫描测试，应用范围非常广，特别是材料的研发、性能检测与质量控制。

比表面与孔隙度分析仪

主要功能:

固体样品的比表面积分析测定 样品的微孔/介孔孔径分布和孔隙率分析 吸附性能测定 吸附热测定。