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德国Zeiss Merlin Compact场发射扫描电子显微镜，配备肖特基热场发射电子枪、高灵敏度镜筒内In-lens Duo探测器，SE2探测器，AsB探测器及Oxford-AZtec能谱仪。可获得样品表观形貌的高分辨电子图像，能谱仪可实现对各类样品成分定性及半定量分析，以及样品表面元素面分布测试。
应用范围包括金属、纳米颗粒和粉末、多孔物质、电子器件、陶瓷、有机高分子材料、晶体材料、各类薄膜纤维材料、分子筛催化剂及处理固定好的生物细胞材料的测试分析。
注意：认证服务不纳入上海科技券补贴范围。