平面光源测试系统
- 制造厂商：拓普康
- 购置日期：2011-04-13
- 型号：LTS-547H/BM-7A
- 生产国别：日本
- 仪器类别：物理性能测试仪器
- 安放地址：上海市
跨区域科技政策：
-
上海
-
南京宿迁淮安徐州泰州镇江扬州盐成常州无锡南通苏州连云港
-
杭州衢州温州台州舟山金华绍兴湖州嘉兴宁波丽水余姚
-
合肥毫州六安宿州阜阳黄山淮北淮南蚌埠宣城池州滁州安庆铜陵芜湖马鞍山
- 仪器详情
-
采用三色值过滤的测定方法。可测定亮度、色度、色温CIELAB、CIELUV、色差等。4个量测角度可以切换。在液晶领域作为业界标准广受好评。CRT的色温，色度，VDT的亮度，对比度；LED,LCD的色度，亮度，对比度；各种光源的亮度，色温，配光特性的检查；反射座，汽车牌照的亮度，色度，照度；道路，隧道的路面，隧道内的亮度；胶片，滤光器等的色度和透过率；印刷物，涂料等的配合及色差；纤维，壁纸等的色度和色差；塑料成型品的色度和色差；药品，化妆品的色度和色差。
-
暂无信息
-
暂无信息
-
光学系统 对物镜：f=80mm, F2.5/目镜 :观察视野5° 测定角 2° / 1° /0.2° /0.1° 可切换 测定距离 350mm~∞ 最小测定直径（mm￠） 2° : 10,1° : 5,0.2° : 1,0.1° 0.5 分光感度特性 近拟于CIE1931等色关数 受光素子 硅光电二极管 测定功能 亮度（L:cd/？O）,CIE1931色度坐标xy,CIE1976色度坐标u′v′ 三刺激值XYZ，相关色温度（Tck）及偏差（duv） CIE1976L*a*b*,CIE1976L*u*v* 亮度测定范围 0.01~12,000,000cd/？O 亮度精度 对标准A 光源 ±4%以内：1~5cm/？O(2°自动范围测定时) ±2%以内，5cd/？O以上（2°自动范围测定时） 色度精度 对标准A光源 dx,dy±0.002以内：10cd/？O以上（2°自动范围测定时） 标准A光源 +滤色片 dx,dy±0.01以内（滤色片0-55，Y-48，A-73B，IRA-05） dx,dy±0.03以内（滤色片R-61，B-46，V-44，G-54） 显示间隔 不管是FAST还是SLOW，显示间隔都约为0.5秒 界面 USB1.1/RS-232C 外形尺寸 约325mm(长)×120mm(宽)×162mm（高）
-
暂无信息
-
暂无信息
-
暂无信息
-
暂无信息
-
暂无信息
-
暂无信息
上海半导体照明工程技术研究中心
机构介绍: 上海半导体照明工程技术研究中心为上海市为了推动上海半导体照明产业的快速、健康发展而组建。中心定位于推进半导体照明这一绿色光源的应用，由上海市科委、上海科学院、张江集团、华东师大、复旦大学、上海大学、上海蓝宝光电材料有限公司等13家单位发起成立的，一产学研联合的形式对产业发展中的重大关键共性技术组织联合攻关，研发行业技术标准，提供完善的公共技术服务。
资质能力：
