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场发射扫描电子显微镜/能谱仪

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  • 仪器详情
  • FEI Electron Optics B.V. / EDAX

  • 2009-11-07

  • Quanta 400 FEG;CENESIS XM2 SEM EDS

  • 捷克

  • 分析仪器

  • 上海市

  • 高分辨率,观察形貌分析结构。

  • 以很高的分辨率对物质微观形貌进行显微成像分析;测定物质结构;在物质微观形貌及结构进行分析的同时,对物质成分进行微区分析,微区尺寸可为纳米尺度。

  • 分辨率二次电子(SE)成像:高真空模式:30kV时 1.2 nm;1kV时 3.0nm 低真空模式:30kV时 1.5 nm;3kV时 3.0nm ESEM环境真空模式: 30kV时 1.5 nm背散射电子(BSE)成像:30kV时 2.5 nm放大倍数高真空模式: 12x - 1,000,000x低真空模式: 12x - 1,000,000x

  • 以很高的分辨率对物质微观形貌进行显微成像分析;测定物质结构;在物质微观形貌及结构进行分析的同时,对物质成分进行微区分析,微区尺寸可为纳米尺度。

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  • 800

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上海材料研究所

机构介绍:       上海材料研究所起源于1946年在上海建立的材料性能实验室,建国后成为国家机械工业系统从事材料技术开发的综合性部属研究机构,1999年改制为隶属于上海市科委系统以工程材料研究开发为主并从事新材料制品生产、经营的高新技术企业。主要产品和研究开发领域:金属材料;高分子复合材料;陶瓷材料;高性能粉体材料、硬质合金材料及纳米材料;材料性能评价及质量监控。多年来,该所完成了大量的国家和上海市重点项目,为重大工程解决了一批关键材料技术;向众多工矿企业提供了先进适用的材料技术和质量监控技术,有力地促进了企业产品的更新换代和质量提高。改革开放以来,该所通过多种形式,实现新材料成果的产业化培育,形成了一批以本所科技成果为依托,由本所控股或参股的生产经营实体。新世纪,该所将继续深化科技体制改革,发展成为既具有材料技术自主创新能力,又拥有适应市场需求的拳头产品的一流高科技企业。

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