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三维原子探针（3DAP）是对不同元素的原子逐个进行分析的一种技术，并给出纳米空间中不同元素原子的分布图形，能够进行定量分析，是目前最微观，并且分析精度较高的一种分析技术。从分析逐个原子来了解物质微区化学成分的不均匀性，3DAP是一种不可替代的分析方法。可直接观察Cottrell 气团；分析界面处原子偏聚；研究弥散相的析出过程；研究非晶晶化时的原子扩散和晶体成核过程；分析各种合金元素在纳米晶材料不同相及界面上分布。
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三维原子探针（3DAP）是在场离子显微镜(FIM)基础上发展起来的一种分析技术，在FIM样品尖端叠加脉冲电压使原子电离并蒸发，用飞行时间质谱仪测定离子的质量/电荷比来确定该离子的种类，用位置敏感探头确定原子的位置。它可以对不同元素的原子逐个进行分析，并给出纳米空间中不同元素原子的分布图形，能够进行定量分析，是目前最微观，并且分析精度较高的一种分析技术。从分析逐个原子来了解物质微区化学成分的不均匀性，3DAP是一种不可替代的分析方法。3DAP可以直接观察到Cottrell 气团；分析界面处原子的偏
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三维原子探针（3DAP）是对不同元素的原子逐个进行分析的一种技术，并给出纳米空间中不同元素原子的分布图形，能够进行定量分析，是目前最微观，并且分析精度较高的一种分析技术。从分析逐个原子来了解物质微区化学成分的不均匀性，3DAP是一种不可替代的分析方法。可直接观察Cottrell 气团；分析界面处原子偏聚；研究弥散相的析出过程；研究非晶晶化时的原子扩散和晶体成核过程；分析各种合金元素在纳米晶材料不同相及界面上分布。
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a) 样品可冷却至20-80K温度下进行分析，并在 25-290K之间以1K的分辨率完全可控。
b) 在20X20X100nm空间中可定出多数原子的三维空间位置和元素种类。水平方向空间分辨率优于0.25nm。
c) 分析室的真空度应优于1 x 10-10 mbar. 样品从放入预抽真空室到放入分析室并达到要求的真空度所需的时间应小于30分钟。
d) 系统可探测的质/ 荷比范围为1 到 300 AMU.
e) 系统测量的分辨率优于M/ΔM=500。可用纯钨进行测量标定，当探测到 100,000个钨离子时，钨的同位素182W, 183W, 184W和 186W的分辨率在标准偏差之内。
f) 能进行FIM图像观察和记录。 -
暂无信息
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暂无信息
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无
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2000
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暂无信息
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暂无信息
上海大学分析测试中心
机构介绍: 场发射高分辨透射电子显微镜：加速电压：200KV，点分辨率：0.24NM，线分辨率：0.1NM，透射扫描线分辨率：0.20NM，电子束斑大小：TEM模式：2-5NM：汇聚束模式：0.5-2.4NM，放大倍率：低倍模式：50-6000，标准模式：2000-1500000：选区模式：8000-800000，选区衍射相机长度：8-150CM，高分散衍射相机长度：4-80M，样品台倾斜角度：X：正负35度 Y：正负30度，EDS分辨率：MNKA小于136eV;分析元素范围：B5-U92。场发射高分辨扫描电子显微镜：二次电子像分辨率：1.0NM（15KV）；2.2NM（1KV） 背散射电子像分辨率：3NM（15KV），WD=8MM）EDS分辨率：136eV EDS 元素分析范围：B-U。微区转靶X射线衍射仪：发生器垂直类60KV-600mA（Max18KW），灯丝：0.5X10L，束高：310mm，全自动测角器- 垂直关。椭圆偏振光谱仪：波长范围：260-1700nm；光斑尺寸人工可调0.1-0.2-1nm; 样品水平放置；入射角可以0.01度步长在 ：45-90度范围内自动改变；8英寸自动XY移动台。纳米粒度及电位分析仪：样品精度：2 nm to 3 microns与5 nm to 30 microns; 量程：2纳米-3000纳米； 角度：12-90度；运动范围：正负10μm/vs; 电导率：0-30ms/cm; 温度：10-70度。
资质能力：
