振动样品磁强计
- 制造厂商：CHINA TREND LIMITED
- 购置日期：2009-07-03
- 型号：lakeshore7407
- 生产国别：美国
- 仪器类别：物理性能测试仪器
- 安放地址：上海市
跨区域科技政策：
-
上海
-
南京苏州南通宿迁淮安徐州泰州镇江扬州盐成常州无锡连云港
-
杭州嘉兴衢州温州台州舟山金华绍兴湖州宁波丽水余姚
-
合肥毫州六安宿州阜阳黄山淮北淮南蚌埠宣城池州滁州安庆铜陵芜湖马鞍山
- 仪器详情
-
振动样品磁强计是研究材料磁性能必不可少的基本研究工具，可以测量反磁性材料、顺磁材料和抗铁磁材料等材料的多种磁性能，测量的样品可以为块体磁性材料、粉末、薄膜、单晶、磁性液体等，可以得到材料的磁滞回线（包括M vs H 曲线、饱和磁化率(MSAT)、剩磁( MREM)、矫顽力( Hc)、矫顽力倾斜角, dM/dH值, 或矫顽力的相对敏感度）、初始磁化曲线、直流剩磁、交流剩磁、磁化数据的时间函数、M-T曲线、磁电阻测量等多种磁学参数和磁学曲线，通过这些参数和曲线，可以研究磁性材料中元素的合金化和工艺参数的变化对
-
振动样品磁强计是研究材料磁性能必不可少的基本研究工具，可以测量反磁性材料、顺磁材料和抗铁磁材料等材料的多种磁性能，测量的样品可以为块体磁性材料、粉末、薄膜、单晶、磁性液体等，可以得到材料的磁滞回线（包括M vs H 曲线、饱和磁化率(MSAT)、剩磁( MREM)、矫顽力( Hc)、矫顽力倾斜角, dM/dH值, 或矫顽力的相对敏感度）、初始磁化曲线、直流剩磁、交流剩磁、磁化数据的时间函数、M-T曲线、磁电阻测量等多种磁学参数和磁学曲线，通过这些参数和曲线，可以研究磁性材料中元素的合金化和工艺参数的变化对
-
振动样品磁强计是研究材料磁性能必不可少的基本研究工具，可以测量反磁性材料、顺磁材料和抗铁磁材料等材料的多种磁性能，测量的样品可以为块体磁性材料、粉末、薄膜、单晶、磁性液体等，可以得到材料的磁滞回线（包括M vs H 曲线、饱和磁化率(MSAT)、剩磁( MREM)、矫顽力( Hc)、矫顽力倾斜角, dM/dH值, 或矫顽力的相对敏感度）、初始磁化曲线、直流剩磁、交流剩磁、磁化数据的时间函数、M-T曲线、磁电阻测量等多种磁学参数和磁学曲线，通过这些参数和曲线，可以研究磁性材料中元素的合金化和工艺参数的变化对
-
1. 灵敏度：不低于：5×10-7emu，最大磁场不小于2.3T，极头间距16.2 mm (0.64 in) 2. 磁矩测量范围：从5×10-7emu到103emu 3. 最大磁场：极面尺寸为7.5cm时，2.3T (室温)；1.5T(高低温) 4．变温范围：85K？D950K ，85K到950K之间为连续变温 5．温度稳定性：±0.5K 6. 重复性: 优于±1%, 或全量程的 ±0.15% 7. 磁场测量精度（在高斯单位下）：读数的1% 或全量程的 ±0.05% 8. 磁电阻测量范围：最大到 20 MΩ 9．磁电阻测量方法：四探针法样品不需焊接
-
暂无信息
-
暂无信息
-
无
-
网上公布为准
-
暂无信息
-
暂无信息
上海大学分析测试中心
机构介绍: 场发射高分辨透射电子显微镜：加速电压：200KV，点分辨率：0.24NM，线分辨率：0.1NM，透射扫描线分辨率：0.20NM，电子束斑大小：TEM模式：2-5NM：汇聚束模式：0.5-2.4NM，放大倍率：低倍模式：50-6000，标准模式：2000-1500000：选区模式：8000-800000，选区衍射相机长度：8-150CM，高分散衍射相机长度：4-80M，样品台倾斜角度：X：正负35度 Y：正负30度，EDS分辨率：MNKA小于136eV;分析元素范围：B5-U92。场发射高分辨扫描电子显微镜：二次电子像分辨率：1.0NM（15KV）；2.2NM（1KV） 背散射电子像分辨率：3NM（15KV），WD=8MM）EDS分辨率：136eV EDS 元素分析范围：B-U。微区转靶X射线衍射仪：发生器垂直类60KV-600mA（Max18KW），灯丝：0.5X10L，束高：310mm，全自动测角器- 垂直关。椭圆偏振光谱仪：波长范围：260-1700nm；光斑尺寸人工可调0.1-0.2-1nm; 样品水平放置；入射角可以0.01度步长在 ：45-90度范围内自动改变；8英寸自动XY移动台。纳米粒度及电位分析仪：样品精度：2 nm to 3 microns与5 nm to 30 microns; 量程：2纳米-3000纳米； 角度：12-90度；运动范围：正负10μm/vs; 电导率：0-30ms/cm; 温度：10-70度。
资质能力：
