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振动样品磁强计

  • 制造厂商:CHINA TREND LIMITED
  • 购置日期:2009-07-03
  • 型号:lakeshore7407
  • 生产国别:美国
  • 仪器类别:物理性能测试仪器
  • 安放地址:上海市

跨区域科技政策:

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  • 仪器详情
  • 振动样品磁强计是研究材料磁性能必不可少的基本研究工具,可以测量反磁性材料、顺磁材料和抗铁磁材料等材料的多种磁性能,测量的样品可以为块体磁性材料、粉末、薄膜、单晶、磁性液体等,可以得到材料的磁滞回线(包括M vs H 曲线、饱和磁化率(MSAT)、剩磁( MREM)、矫顽力( Hc)、矫顽力倾斜角, dM/dH值, 或矫顽力的相对敏感度)、初始磁化曲线、直流剩磁、交流剩磁、磁化数据的时间函数、M-T曲线、磁电阻测量等多种磁学参数和磁学曲线,通过这些参数和曲线,可以研究磁性材料中元素的合金化和工艺参数的变化对

  • 振动样品磁强计是研究材料磁性能必不可少的基本研究工具,可以测量反磁性材料、顺磁材料和抗铁磁材料等材料的多种磁性能,测量的样品可以为块体磁性材料、粉末、薄膜、单晶、磁性液体等,可以得到材料的磁滞回线(包括M vs H 曲线、饱和磁化率(MSAT)、剩磁( MREM)、矫顽力( Hc)、矫顽力倾斜角, dM/dH值, 或矫顽力的相对敏感度)、初始磁化曲线、直流剩磁、交流剩磁、磁化数据的时间函数、M-T曲线、磁电阻测量等多种磁学参数和磁学曲线,通过这些参数和曲线,可以研究磁性材料中元素的合金化和工艺参数的变化对

  • 振动样品磁强计是研究材料磁性能必不可少的基本研究工具,可以测量反磁性材料、顺磁材料和抗铁磁材料等材料的多种磁性能,测量的样品可以为块体磁性材料、粉末、薄膜、单晶、磁性液体等,可以得到材料的磁滞回线(包括M vs H 曲线、饱和磁化率(MSAT)、剩磁( MREM)、矫顽力( Hc)、矫顽力倾斜角, dM/dH值, 或矫顽力的相对敏感度)、初始磁化曲线、直流剩磁、交流剩磁、磁化数据的时间函数、M-T曲线、磁电阻测量等多种磁学参数和磁学曲线,通过这些参数和曲线,可以研究磁性材料中元素的合金化和工艺参数的变化对

  • 1. 灵敏度:不低于:5×10-7emu,最大磁场不小于2.3T,极头间距16.2 mm (0.64 in) 2. 磁矩测量范围:从5×10-7emu到103emu 3. 最大磁场:极面尺寸为7.5cm时,2.3T (室温);1.5T(高低温) 4.变温范围:85K?D950K ,85K到950K之间为连续变温 5.温度稳定性:±0.5K 6. 重复性: 优于±1%, 或全量程的 ±0.15% 7. 磁场测量精度(在高斯单位下):读数的1% 或全量程的 ±0.05% 8. 磁电阻测量范围:最大到 20 MΩ 9.磁电阻测量方法:四探针法样品不需焊接

  • 暂无信息

  • 暂无信息

  • 网上公布为准

  • 暂无信息

  • 暂无信息

上海大学分析测试中心

机构介绍: 场发射高分辨透射电子显微镜:加速电压:200KV,点分辨率:0.24NM,线分辨率:0.1NM,透射扫描线分辨率:0.20NM,电子束斑大小:TEM模式:2-5NM:汇聚束模式:0.5-2.4NM,放大倍率:低倍模式:50-6000,标准模式:2000-1500000:选区模式:8000-800000,选区衍射相机长度:8-150CM,高分散衍射相机长度:4-80M,样品台倾斜角度:X:正负35度 Y:正负30度,EDS分辨率:MNKA小于136eV;分析元素范围:B5-U92。场发射高分辨扫描电子显微镜:二次电子像分辨率:1.0NM(15KV);2.2NM(1KV) 背散射电子像分辨率:3NM(15KV),WD=8MM)EDS分辨率:136eV EDS 元素分析范围:B-U。微区转靶X射线衍射仪:发生器垂直类60KV-600mA(Max18KW),灯丝:0.5X10L,束高:310mm,全自动测角器- 垂直关。椭圆偏振光谱仪:波长范围:260-1700nm;光斑尺寸人工可调0.1-0.2-1nm; 样品水平放置;入射角可以0.01度步长在 :45-90度范围内自动改变;8英寸自动XY移动台。纳米粒度及电位分析仪:样品精度:2 nm to 3 microns与5 nm to 30 microns; 量程:2纳米-3000纳米; 角度:12-90度;运动范围:正负10μm/vs; 电导率:0-30ms/cm; 温度:10-70度。

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