上海大学分析测试中心

机构介绍: 场发射高分辨透射电子显微镜：加速电压：200KV，点分辨率：0.24NM，线分辨率：0.1NM，透射扫描线分辨率：0.20NM，电子束斑大小：TEM模式：2-5NM：汇聚束模式：0.5-2.4NM，放大倍率：低倍模式：50-6000，标准模式：2000-1500000：选区模式：8000-800000，选区衍射相机长度：8-150CM，高分散衍射相机长度：4-80M，样品台倾斜角度：X：正负35度 Y：正负30度，EDS分辨率：MNKA小于136eV;分析元素范围：B5-U92。场发射高分辨扫描电子显微镜：二次电子像分辨率：1.0NM（15KV）；2.2NM（1KV） 背散射电子像分辨率：3NM（15KV），WD=8MM）EDS分辨率：136eV EDS 元素分析范围：B-U。微区转靶X射线衍射仪：发生器垂直类60KV-600mA（Max18KW），灯丝：0.5X10L，束高：310mm，全自动测角器- 垂直关。椭圆偏振光谱仪：波长范围：260-1700nm；光斑尺寸人工可调0.1-0.2-1nm; 样品水平放置；入射角可以0.01度步长在 ：45-90度范围内自动改变；8英寸自动XY移动台。纳米粒度及电位分析仪：样品精度：2 nm to 3 microns与5 nm to 30 microns; 量程：2纳米-3000纳米； 角度：12-90度；运动范围：正负10μm/vs; 电导率：0-30ms/cm; 温度：10-70度。

资质能力：