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变温X射线衍射仪

  • 制造厂商:日本理学株式会社
  • 购置日期:2005-03-01
  • 型号:D/max-2200-3KW
  • 生产国别:日本
  • 仪器类别:分析仪器
  • 安放地址:上海市

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  • 仪器详情
  • 主要用于凝聚态物理学、化学、材料、环境等领域,材料的物相分析、结构和微结构的表征。 1、测定未知晶体结构; 2、物相的定性分析和无标定量分析; 3、测定精密点阵常数和固溶体类型和固溶度; 4、测定物质随温度和组成发生的膨胀收缩,点阵畸变和相变; 5、测定晶粒尺寸,微应力; 6、测定非晶物质原子径向分布函数,聚合物结晶度

  • → 高温样品台:试样处于室温至1500℃状态下的结构分析。 → 低温样品台:试样处于10K至室温状态下的结构分析。

  • 主要用于凝聚态物理学、化学、材料、环境等领域,材料的物相分析、结构和微结构的表征。 1、测定未知晶体结构; 2、物相的定性分析和无标定量分析; 3、测定精密点阵常数和固溶体类型和固溶度; 4、测定物质随温度和组成发生的膨胀收缩,点阵畸变和相变; 5、测定晶粒尺寸,微应力; 6、测定非晶物质原子径向分布函数,聚合物结晶度

  • 最大额定输出:3kw;额定管压范围:20-60KV;额定管电流:2-50mA;稳定性:±0.005%之内;靶:铜靶;扫描方式:2θ/θ耦合 、2θ、θ独立;2θ测角范围:0.5°-145°; 测角仪精度:0.0001°;角度差:±0.02°;温度范围:高温:室温-1500℃,低温:12K-室温

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  • 900

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上海大学分析测试中心

机构介绍: 场发射高分辨透射电子显微镜:加速电压:200KV,点分辨率:0.24NM,线分辨率:0.1NM,透射扫描线分辨率:0.20NM,电子束斑大小:TEM模式:2-5NM:汇聚束模式:0.5-2.4NM,放大倍率:低倍模式:50-6000,标准模式:2000-1500000:选区模式:8000-800000,选区衍射相机长度:8-150CM,高分散衍射相机长度:4-80M,样品台倾斜角度:X:正负35度 Y:正负30度,EDS分辨率:MNKA小于136eV;分析元素范围:B5-U92。场发射高分辨扫描电子显微镜:二次电子像分辨率:1.0NM(15KV);2.2NM(1KV) 背散射电子像分辨率:3NM(15KV),WD=8MM)EDS分辨率:136eV EDS 元素分析范围:B-U。微区转靶X射线衍射仪:发生器垂直类60KV-600mA(Max18KW),灯丝:0.5X10L,束高:310mm,全自动测角器- 垂直关。椭圆偏振光谱仪:波长范围:260-1700nm;光斑尺寸人工可调0.1-0.2-1nm; 样品水平放置;入射角可以0.01度步长在 :45-90度范围内自动改变;8英寸自动XY移动台。纳米粒度及电位分析仪:样品精度:2 nm to 3 microns与5 nm to 30 microns; 量程:2纳米-3000纳米; 角度:12-90度;运动范围:正负10μm/vs; 电导率:0-30ms/cm; 温度:10-70度。

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